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標(biāo)題:鍍層膜厚儀
產(chǎn)品概述
鍍層膜厚儀產(chǎn)品圖片:
鍍層膜厚儀是使用在材料表面檢測(cè)膜層厚度和復(fù)合材料的厚度的儀器。它利用一種叫做“干涉測(cè)量”技術(shù)的原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)光線照射在材料表面時(shí),一部分光會(huì)反射回來(lái),一部分會(huì)穿過(guò)膜層并被底部反射。反射光線之間的差距將導(dǎo)致干涉現(xiàn)象。如果我們知道涂層材料的折射率,我們就可以計(jì)算出膜層厚度的值,從而確定膜層是否符合要求。
5. 環(huán)境監(jiān)測(cè):可以用于測(cè)量和監(jiān)測(cè)大氣、水、土壤和生物組織等環(huán)境中的化學(xué)物質(zhì)的厚度。
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Co INF美國(guó)Calmetrics純?cè)貥?biāo)準(zhǔn)片CO無(wú)限厚 HXCo/xx美國(guó)Calmetrics元素Co/xx標(biāo)準(zhǔn)片Co 2um HXSn/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片底材銅上鍍錫Sn/Cu HXNi/Cu美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片銅底材上鍍鎳Ni/Cu HXCr/Fe美國(guó)Calmetrics標(biāo)準(zhǔn)片鐵底材上鍍鉻Cr/Fe服務(wù)與支持
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